HY（IC）IC卡動態(tài)彎扭試驗機

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HY(IC)IC卡動態(tài)彎扭試驗機

本儀器針對IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1等試驗標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗; 采用*的同步帶傳動，非接觸式光電計數(shù)，15工位同時測量大大提高的儀器的精度和使用壽命。

主要技術(shù)參數(shù)

外形尺寸：長×寬×高（670×380×220mm）

儀器重量：70kg

電壓：AC220V±5%

功率：35W

測試速度：彎曲30r/min

測試周期：1~9999次

彎曲度；長邊20 mm，短邊10 mm

扭曲度：15°±1°雙向

產(chǎn)品用途：用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。

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1.購機前，我們專門派技術(shù)人員為您設(shè)計*的流程和方案

2.購機后，將免費指派技術(shù)人員為您調(diào)試安裝

3.整機保修一年，產(chǎn)品終身維護

4.常年供應(yīng)設(shè)備的易損件及耗品確保儀器能長期使用

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