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電子標簽彎曲測試儀

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HY(IC)IC卡動態彎扭試驗機

技 術 參 數

配  置

 

電子標簽彎曲測試儀本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006ISO10373ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; *符合以上標準。

外形尺寸:L670 X W380 X H220

儀器重量:70kg

壓:AC220V±5%

率:35W

測試速度:彎曲 扭曲30r/min0.5Hz

測試周期:1~9999                                        

扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°,總扭曲角度30°

長邊zui大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊zui小位移量為2mm±0.50mm

短邊zui大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊zui小位移量為1mm±0.50mm

夾具安裝尺寸*按照國家標準執行。

 

儀器加罩前的尺寸是:

長:74.5cm,寬:38cm  高:30cm

儀器加罩后的尺寸是:

長:78cm,寬:42.5cm  高:30cm

1 IC卡動態彎扭試驗機主機一臺;

2、配置:

1)常用調試工具套:

2)中國臺灣STK交流調速電機系統一套;

3)中國臺灣衡翼高精度齒輪減速系統一套;

4)高精度光電計數器一套

4中國臺灣衡翼高精度計數系統一套;

3、產品用途:

   電子標簽彎曲測試儀用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。

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